-
1 beam diameter (in in situ microanalysis)
Макаров: диаметр пучка (в микроанализе in situ)Универсальный англо-русский словарь > beam diameter (in in situ microanalysis)
-
2 in situ microanalysis
Макаров: микроанализ in situ -
3 lateral resolution (in in situ microanalysis)
Макаров: разрешение в базисной плоскости (в микроанализе in situ)Универсальный англо-русский словарь > lateral resolution (in in situ microanalysis)
-
4 secondary electrons (SE) (in situ microanalysis)
Макаров: вторичный электроны (в микроанализе; ВЭ)Универсальный англо-русский словарь > secondary electrons (SE) (in situ microanalysis)
-
5 beam diameter
1) Техника: диаметр пучка2) Автомобильный термин: диаметр луча3) Макаров: (in in situ microanalysis) диаметр пучка (в микроанализе in situ) -
6 lateral resolution
1) Техника: разрешение по плоскости (при микроанализе)2) Геофизика: горизонтальная разрешенность3) Робототехника: боковое разрешение, поперечное разрешение, разрешающая способность ( напр ультразвукового дальномера) в боковом направлении, разрешающая способность (напр ультразвукового дальномера) в поперечном направлении4) Макаров: (in in situ microanalysis) разрешение в базисной плоскости (в микроанализе in situ) -
7 secondary electrons
1) Макаров: (SE)(in situ microanalysis) вторичный электроны (в микроанализе; ВЭ)2) Электротехника: вторичные электроны
См. также в других словарях:
Environmental scanning electron microscope — Wool fibers imaged in an ESEM by the use of two symmetrical plastic scintillating backscattered electron detectors … Wikipedia
ESEM — stands for environmental scanning electron microscope. This is a scanning electron microscope (SEM) that allows a gaseous environment in the specimen chamber. Whereas all conventional microscopes operate in vacuum, the ESEM has added a new… … Wikipedia
Fluorescence X — Spectrométrie de fluorescence X Pour les articles homonymes, voir SFX, FX et XRF. Un spectromètre de fluorescence X Philips PW1606 avec manutention automatiq … Wikipédia en Français
Spectrometrie de fluorescence X — Spectrométrie de fluorescence X Pour les articles homonymes, voir SFX, FX et XRF. Un spectromètre de fluorescence X Philips PW1606 avec manutention automatiq … Wikipédia en Français
Spectrométrie de fluorescence X — Pour les articles homonymes, voir SFX, FX et XRF. Un chimiste manipule un goniomètre manuel pour l analyse par spectrométrie de fluorescence X de monocristaux d échant … Wikipédia en Français
Spectrométrie de fluorescence x — Pour les articles homonymes, voir SFX, FX et XRF. Un spectromètre de fluorescence X Philips PW1606 avec manutention automatiq … Wikipédia en Français
X-ray photoelectron spectrometry — Spectrométrie de fluorescence X Pour les articles homonymes, voir SFX, FX et XRF. Un spectromètre de fluorescence X Philips PW1606 avec manutention automatiq … Wikipédia en Français
Enrique García Rodríguez — Saltar a navegación, búsqueda Enrique García. Enrique García (Madrid, España; 2 de junio de 1971), director de cine, productor cinematográfico, guionista y socio fundador de … Wikipedia Español
Reflection high energy electron diffraction — (RHEED) is a technique used to characterize the surface of crystalline materials. RHEED systems gather information only from the surface layer of the sample, which distinguishes RHEED from other materials characterization methods that rely also… … Wikipedia
Transmission electron microscopy — A TEM image of the polio virus. The polio virus is 30 nm in size.[1] Transmission electron microscopy (TEM) is a microscopy technique whereby a beam of electrons is transmitted through an ultra thin specimen, interacting with the specimen as it… … Wikipedia
Trace evidence — contends that every contact, no matter how slight, will leave a trace. The trace is normally caused by objects or substances contacting one another, and leaving a minute sample on the contact surfaces. Material is often transferred by heat… … Wikipedia
